Binde bir hassasiyetiyle malzemenin içeriği ve atomlar arasındaki bağların Belirleme Ölçümü (GEÇİCİ OLARAK KULLANIM DIŞI)

4,200

adet

Hizmet Cihazı/Sistemi: X-Işını Fotoelektron Spektroskopi (XPS)

Hizmet Cihazı/Sisteminin Marka/Modeli: PHI

Açıklama: X-Işını foto-elektron Spektroskopisi veya kimyasal analiz için elektron spektroskopisi katı malzemelerin yüzeyleri hakkında kimyasal bilgi elde etmek için kullanılan gelişmiş bir yüzey analiz tekniğidir. Farklı kimyasal çevrelerle ilişkili atomlar, kimyasal kayma olarak adlandırılan düşük farklılıkta bağlanma enerjisine sahip enerji pikleri üretirler. Enerjisi birbirine yakın olan ayrı kimyasal durumlar, her bir durumun içeriğini yüzde olarak veren pik saptama programları kullanılarak birbirinden ayrılır.