30’dan fazla cihazı bulunan Test ve Karakterizasyon Birimi, laboratuvar ve endüstri ölçeğinde üretilmiş hücrelerin Raman, FTIR, XPS, ToF-SIMS, ECV, EDS, XRD ve Spektroskopik Elipsometri analizlerini yapabilmektedir. Güneş hücrelerinin elipsometrik ölçümleri, elemental bağ yapıları RAMAN, FTIR ve XPS karakterizasyon yöntemleri ile analiz edilebilmektedir. Aynı zamanda, ToF-SIMS ve ECV yöntemleri kullanılarak, hücrelerin katkılama seviyeleri aktif ve pasif olarak belirlenebilmektedir. Ayrıca, ToF-SIMS, XPS ve EDS yöntemleri ile güneş hücrelerinin performansını etkileyen safsızlık gösteren yapıları belirlemek mümkündür. XRD ve Raman spektroskopisi ile hücrelerin kristalografik ve yapısal özellikleri hakkında bilgi edinmenin yanında, spektroskopik elipsometre ile optik özelliklerin belirlenmesi mümkündür. Güneş hücrelerinin morfolojik ve topografik özelliklerini belirlemek için de SEM ve AFM analiz yöntemleri kullanılmaktadır. Güneş hücrelerinin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi için ise 4-nokta kontak, Sinton yük-yaşam süresi ve Suns-Voc yöntemlerinden yararlanılmaktadır. Bu yöntemler kullanılarak üretim süreci tamamlanmamış hücrelerin potansiyel elektriksel özellikleri her bir üretim aşamasından sonra kontrol edilerek, sürecin iyileştirilmesi ve kontrollü ilerlemesi sağlanabilmektedir. Genel olarak Türkiye, Doğu Avrupa ve Orta Doğu bölgelisinde bu konuda öncü bir kuruluş olan ODTÜ-GÜNAM’ın, güneş hücresi teknolojileri için üretim aşamasından son ürün noktasına kadar yapısal, elektriksel ve optik alanlarda geniş bir yelpazede test ve karakterizasyon altyapısı ve hizmet verme kabiliyeti bulunmaktadır.
