TK

Merkezimizde laboratuvar ve endüstri ölçeğinde üretilmiş hücrelerin Raman, FTIR, XPS, ToF-SIMS, ECV, EDS, XRD ve Spektroskopik Elipsometri analizleri yapılabilmektedir. Güneç hücrelerinin elipsometrik ölçümleri, elemental bağ yapıları RAMAN, FTIR ve XPS karakterizasyon yöntemleri ile analiz edilebilmektedir. Aynı zamanda, ToF-SIMS ve ECV yöntemleri kullanılarak hücrelerin katkılama seviyeleri belirlenerek aktif ve pasif belirlenebilmektedir. Ayrıca, ToF-SIMS, XPS ve EDS yöntemleri ile de güneş hücrelerinin performansını etkileyen safsızlık gösteren yapıları belirlemek mümkündür. XRD ve Raman spektroskopisi ile hücrelerin kristalografik ve yapısal özellikleri hakkında bilgi edinmek mümkün iken, spektroskopik elipsometrik ile optik özelliklerin belirlenmesi mümkündür. Güneş hücrelerinin morfolojik ve topografik özelliklerini belirlemek için de SEM ve AFM analiz yöntemleri kullanılmaktadır. Güneş hücrelerinin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi içinde kullanılan 4-nokta kontak, Sinton yük-yaşam süresi ve Suns-Voc yöntemleri kullanılmaktadır. Bu yöntemler kullanılarak üretim süreci tamamlanmamış hücrelerin potansiyel elektriksel özellikleri her bir üretim aşamasından sonra kontrol edilerek, sürecin iyileştirilmesi ve kontrollü ilerlemesi sağlanabilmektedir. Genel olarak Türkiye, Doğu Avrupa ve Orta Doğu bölgelisinde bir öncü kuruluş olarak güneş pili teknolojileri için üretim aşamasından son ürün noktasına kadar yapısal, elektriksel ve optik alanlarda geniş bir yelpaze de test ve karakterizasyon altyapımız ve  becerimiz bulunmaktadır.