Test ve Karakterizasyon

30’dan fazla cihazı bulunan Test ve Karakterizasyon Birimi, laboratuvar ve endüstri ölçeğinde üretilmiş hücrelerin Raman, FTIR, XPS, ToF-SIMS, ECV, EDS, XRD ve Spektroskopik Elipsometri analizlerini yapabilmektedir. Güneş hücrelerinin elipsometrik ölçümleri, elemental bağ yapıları RAMAN, FTIR ve XPS karakterizasyon yöntemleri ile analiz edilebilmektedir. Aynı zamanda, ToF-SIMS ve ECV yöntemleri kullanılarak, hücrelerin katkılama seviyeleri aktif ve pasif olarak belirlenebilmektedir. Ayrıca, ToF-SIMS, XPS ve EDS yöntemleri ile güneş hücrelerinin performansını etkileyen safsızlık gösteren yapıları belirlemek mümkündür. XRD ve Raman spektroskopisi ile hücrelerin kristalografik ve yapısal özellikleri hakkında bilgi edinmenin yanında, spektroskopik elipsometre ile optik özelliklerin belirlenmesi mümkündür. Güneş hücrelerinin morfolojik ve topografik özelliklerini belirlemek için de SEM ve AFM analiz yöntemleri kullanılmaktadır. Güneş hücrelerinin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi için ise 4-nokta kontak, Sinton yük-yaşam süresi ve Suns-Voc yöntemlerinden yararlanılmaktadır. Bu yöntemler kullanılarak üretim süreci tamamlanmamış hücrelerin potansiyel elektriksel özellikleri her bir üretim aşamasından sonra kontrol edilerek, sürecin iyileştirilmesi ve kontrollü ilerlemesi sağlanabilmektedir. Genel olarak Türkiye, Doğu Avrupa ve Orta Doğu bölgelisinde bu konuda öncü bir kuruluş olan ODTÜ-GÜNAM’ın, güneş hücresi teknolojileri için üretim aşamasından son ürün noktasına kadar yapısal, elektriksel ve optik alanlarda geniş bir yelpazede test ve karakterizasyon altyapısı ve hizmet verme kabiliyeti bulunmaktadır.

HİZMET CİHAZ LİSTESİ ve AÇIKLAMALARI

Cihaz AdıCihaz AçıklamasıFiyat (TL)
Yüksek Voc Flaş ışığı altında Güneş Simülatörü M0-M12 (Sınıf AAA) ENDEAS markasının QuickSun 130E modeli olan bu cihaz, M0-M12 boyut aralığındaki güneş pillerinin test edilmesine yönelik kompakt bir mini modül flaşördür. 300–1200 nm Xenon spektrumuna sahip A+A+A+ Sınıfı güneş simülatörü, tek masa üstü sistem olarak saniyeler içinde I-V ölçme işlemini gerçekleştirebilmektedir1200
Yüksek Çözünürlüklü Elektrolüminesans M0-M12Endeas markasının Yüksek Çözünürlüklü Elektrolüminesans modeli olan bu cihaz, güneş pillerinin performansını, metal kusurlarını ve mikro çatlaklarını ortaya çıkartmaktadır. Güneş pillerinin kızılötesi ışımalarının yüksek çözünürlüklü görüntülendirilmesine yönelik bir sistemdir. EL ölçümlerinden yararlanarak güneş pillerinin verimliliğini, güvenilirliğini ve genel kalitesini optimize etmeye katkı sağlar.1200
Flaş ışığı altında Güneş Simülatörü (Sınıf AAA)ENDEAS markasının QuickSun 120E modeli olan bu cihaz, M0-M12 boyut aralığındaki güneş pillerinin test edilmesine yönelik kompakt bir mini modül flaşördür. 300–1200 nm Xenon spektrumuna sahip A+A+A+ Sınıfı güneş simülatörü, tek masa üstü sistem olarak saniyeler içinde I-V ölçme işlemini gerçekleştirebilmektedir1200
Mikro Raman spektrofotometresiHoriba Jobin Yvon iHR550 Raman Spektroskopisi, moleküler yapıları olağanüstü hassasiyetle araştırmak için çeşitli bilimsel disiplinlerde kullanılan çok önemli bir analitik araçtır. Çalışma prensibi, 532 nm dalga boyuna sahip monokromatik ışığın moleküller tarafından elastik olmayan şekilde saçılması esasına dayanır ve saçılan ışığın Raman spektrumuna bakılarak titreşim ve dönme bilgisi elde edilir. Bu spektral parmak izleri malzemenin atomik içeriği hakkında bilgi edinmemizi sağlar.1500
Spektroskopik elipsometreSemilab SOPRA GES-5E Elipsometre, ince film kalınlıkları ve kırınım indisleri gibi yüzey özelliklerini yüksek hassasiyetle ölçmede mükemmeldir. Spektroskopik elipsometri, ince filmlerin kırılma indekslerini ve kalınlıklarını (malzeme türüne bağlı olarak birkaç Angstrom’dan birkaç um’ye kadar) belirlemek için polarize ışığın yüzeylerle etkileşiminden sonra analiz edilmesiyle ortaya çıkan optik bir ölçüm sistemidir. 2400
Yük yaşam süresi ve i-Voc test sistemiSinton Ömür Ölçümü WCT-120, güneş enerjisi sistemleri için hayati öneme sahip fotovoltaik (PV) hücrelerin yük yaşam ömrünü ölçmek için kullanılan bir cihazdır. Bu bileşenleri farklı sıcaklıklarda performanslarını değerlendirmek için ısıtarak ve fotovoltajlarını ölçerek çalışır. Bu, bu bileşenlerin verimli elektrik üretimini ne kadar süreyle sürdürebileceklerini tahmin etmede yardımcı olur. Sonuç olarak, çeşitli uygulamalarda PV hücrelerinin ve modüllerinin güvenilirliğini ve optimizasyonunu sağlamak için değerli bir araçtır.1200
Suns-Voc test sistemiSinton açık devre testi güneş pillerindeki metal direncini hesaba katmadan Akım-Gerilim eğrisinin hesaplanmasını sağlar. Gerçek Akım-Gerilim eğrisi ile karşılaştırılmasıyla beraber güneş pillerindeki metallerin kalitesini ortaya çıkarır. 1200
4-nokta algılayıcı yüzey direnci ölçüm sistemiJandel 4 nokta algılayıcı direnci ölçüm sistemi, malzemelerin, özellikle de ince filmlerin ve yarı iletkenlerin elektriksel direncini belirlemek için oldukça hassas ve yaygın olarak kullanılan bir yöntemdir. Bir numunenin direncini minimum temas kaynaklı hatayla ölçen, tahribatsız bir yaklaşımdır.900
Elektrolüminesans görüntüleme sistemiMBJ Solar Cell EL-Lab cihazı Güneş hücrelerinin kontaktları oluştuktan sonra uygulanan akımdaki ışıma miktarına bağlı olarak kontaktların çalışabilirliği ve sürekliliğinin belirlenmesi için kullanılır.1200
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)Nanomanyetik markalı Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalarda kullanılan güçlü bir nano ölçekli görüntüleme ve ölçüm tekniğidir. Temel amacı çok çeşitli malzemelerin yüzey özelliklerini olağanüstü hassasiyetle görselleştirmek ve analiz etmektir.2400
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)SEM ZEISS EVO HD 15, vakum altında çalışan ve biyolojik olmayan numunelere uygulanabilen ve odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobudur. Standart ikincil elektron, geri saçılım, değişken basınçlı ikincil elektron modları ile faz ve tane analizi, kristalografi, yüzey topografyası, kirlenme ve korozyon analizi, ağır hacimli numunelerin görüntülenmesi ve analizi yapılmaktadır.1800 / Normal 2400 / Cross Section
Enerji Dispersif Spektroskopi (EDS)SEM cihazına entegre edilmiş bir dedektör olup. Akımı ve boyutu kontrol edilebilen prob ile numune üzerine elektron demeti
düşürülmesini sağlar. Cihaz her elemente ait karakteristik X-ışınlarnı EDS dedektörü yardımıyla ölçer.
3000/5-point 6000/mapping
Fotolüminesans haritalandırma cihazı (PLI)SemiLab PLI1001 cihazı, yarı iletken endüstrisinde levha ve hücre denetimi için tasarlanmış özel bir fotolüminesans görüntüleme aracıdır. Yüksek çözünürlüklü kızılötesi görüntüleme yetenekleri sunarak mikro ve nano ölçekli analizlere uygun hale getirir. Başlıca işlevleri arasında, yarı iletken plakalar ve güneş pillerindeki kristal kusurların, safsızlıkların ve düzensizliklerin tanımlanmasını sağlayan kusur tespiti yer alır. 3000
İnce film I-V testıGüneş hücresine belirli bir voltaj aralığında gerilim veya akım uygulayarak oluşan akım-voltaj karakteristiklerinin ölçümü yapılır. Bu ölçümler, solar simülatör kullanılarak hücrenin karanlık ve aydınlık koşullardaki performansını değerlendirmek için kullanılabilir. Bu sayede, hücrenin fotovoltaik özellikleriyle birlikte diğer elektriksel özellikleri de belirlenebilir.900
Dijital termometreBu cihaz ortamın veya nesnelerin sıcaklığını dijital ekran üzerinden hızlı ve doğru bir şekilde göstermektir. Güneş hücrelerinde ve çeşitli uygulamalarda elverişli bir ölçüm yöntemi sağlar1500
Elektrokimyasal Kapasitans-Gerilim Ölçümü (ECV)Elektrokimyasal kapasitans voltajı ölçümü (ECV), silikon güneş pili araştırmalarında yaygın olarak kullanılan, uygun maliyetli bir yöntemdir. Numunenin derinliğe bağlı katkı profilini çıkartmak için kullanılır. ECV yalnızca elektriksel olarak aktif katkı maddelerini tespit eder.6000
Kontak Direnç Ölçümü Direnci Ölçümü Transfer Uzunluğu Yöntemiyle veya İletim Hattı Modeli ile (TLM)PV Tools markasının TLM-Scan ölçüm aracı, temas direnci, dört kontakt nokta ölçümü ve parmak geometrisi analizi için çoklu ölçüm aracıdır.4500
Fourier dönüşümlü kızılötesi spektrometre (FTIR)Thermo Scientific Nicolet iS50, geniş bir spektral aralığa (4000 cm⁻¹ ila 400 cm⁻¹) ve yüksek spektral çözünürlüğe sahip gelişmiş bir FTIR spektrometresidir. İletim, yansıma ve zayıflatılmış toplam yansıma (ATR) modları aracılığıyla katılar, sıvılar ve gazlar dahil olmak üzere çeşitli numune türleri için kullanılmaktadır.1500
Güneş Hücresi Flaş ışığı altında Güneş Simülatör Testı ve Tasnif SistemiGüneş Hücresi Flaş Işığı Altında Güneş Simülatör Testi ve Tasnif Sistemi, güneş hücrelerinin performansını ve verimliliğini değerlendirmek için kullanılan bir test ve sınıflandırma aracıdır. Temel amacı, güneş hücrelerini flaş ışığı altında simüle edilmiş güneş ışığı koşullarında test ederek elektriksel özelliklerini analiz etmektir. 1200
Devamlı Solar Simülatör (Newport)Newport Sürekli Güneş Simülatörü, kontrollü bir laboratuvar ortamında doğal güneş ışığını taklit etmek için tasarlanmış özel bir cihazdır. Bu simülatör, tutarlı ve tekrarlanabilir ışık koşulları sağlayarak araştırmacıların ve üreticilerin standart test koşulları altında güneş pillerinin performansını, verimliliğini ve ışığa dayanıklılığını değerlendirmelerine olanak tanır.1800
Sıcaklık Bağımlı Yük yaşam süresi ölçüm sistemiGüneş hücrelerinin performansını ve verimliliğini sıcaklığa bağlımlı bir şekilde analiz etmek için kullanılan bir test cihazıdır. Temel amacı, güneş hücrelerindeki taşıyıcıların ömrünü çeşitli sıcaklık koşullarında ölçmektir. Bu sistem, hücrelerin sıcaklık değişimlerine nasıl tepki verdiğini ve bu tepkilerin elektriksel özelliklerini nasıl etkilediğini analiz etmemize olanak tanır.4500
Mikro skala belirleyen Optik mikroskop (Nikon)Mikro skala belirleyen optik Mikroskop, yüksek büyütme özelliği sayesinde mikro ölçekte görüntüleme sağlar ve detaylı incelemeler yapmamıza olanak tanır.300
Güneş Hücresi Kuvantum Verimliliği BENTHAM PVE 300, Xenon (Xe) ve Kuvars-Halojen (QH) lamba kaynaklarını içeren, çift kaynak konfigürasyonuyla donatılmış, oldukça çok yönlü bir ölçüm sistemidir. Monokromatör yardımı ile 300-1200 nm dalgaboyu aralığındaki ışığa göre kalibre edilen ölçüm sistemi, silikon güneş pilleri için Dış Kuantum Verimliliği hesaplamalarında kullanılır.6000
Optik YansımaBENTHAM PVE 300, Xenon (Xe) ve Kuvars-Halojen (QH) lamba kaynaklarını içeren, çift kaynak konfigürasyonuyla donatılmış, oldukça çok yönlü bir ölçüm sistemidir. Monokromatör yardımı ile 300-1200 nm dalgaboyu aralığındaki ışığa göre kalibre edilen ölçüm sistemi, malzemelerin optik yansıma analizlerinde kullanılır.4500
Optik GeçirgenlikBENTHAM PVE 300, Xenon (Xe) ve Kuvars-Halojen (QH) lamba kaynaklarını içeren, çift kaynak konfigürasyonuyla donatılmış, oldukça çok yönlü bir ölçüm sistemidir. Monokromatör yardımı ile 300-1200 nm dalgaboyu aralığındaki ışığa göre kalibre edilen ölçüm sistemi, malzemelerin optik geçirgenlik analizlerinde kullanılır.4500
Optik Bulanıklık ÖlçümüBENTHAM PVE 300, Xenon (Xe) ve Kuvars-Halojen (QH) lamba kaynaklarını içeren, çift kaynak konfigürasyonuyla donatılmış, oldukça çok yönlü bir ölçüm sistemidir. Monokromatör yardımı ile 300-1200 nm dalgaboyu aralığındaki ışığa göre kalibre edilen ölçüm sistemi, malzemelerin optik geçirgenlik analizlerinin bulanıklık ölçümlerinin hesaplanmasında kullanılır.4500
Sıcaklık Katsayı Tayini Devamlı Güneş Simülatör yardımıyla (Spire)Spire Sürekli Güneş Simülatörü, kontrollü bir laboratuvar ortamında doğal güneş ışığını taklit etmek için tasarlanmış özel bir cihazdır. Bu simülatör, tutarlı ve tekrarlanabilir ışık koşulları sağlayarak araştırmacıların ve üreticilerin standart test koşulları altında güneş pillerinin performansını, verimliliğini ve ışığa dayanıklılığını değerlendirmelerine olanak tanır. Ayrıca güneş pili haznesinin sıcaklığını kontrol edebilme mekanızması ile güneş pillerinin sıcaklık katsayılarının hesaplanmasında kullanılır.1200
Mekanik Profilometre (DEKTAK)/VeecoDektak M6, ince film kalınlığını ve farklı alt tabakalar üzerindeki ince filmlerin ve kaplamaların kalınlığınn nm ölçeğinde hassasiyetinde ölçmektedir. Bu araç, yüzey pürüzlülüğünü ölçmenin yanı sıra iki boyutlu yüzey topoğrafyasının ve dalgalılığının profilini çıkarabilir.1200
Kriyojenik Fotolüminesans spektrometreHoriba Jobin Yvon iHR550 Fotolüminesans Spektroskopisi, 532 nm dalga boyuna sahip monokromatik ışığın moleküller tarafından elastik olmayan şekilde saçılması esasına dayanır. Kryostat yardımı ile malzeme soğutulur ve saçılan ışığın yoğunluk spektrumuna bakılarak doğrudan ve doğrudan olmayan bant aralığı enerjisinin sıcaklığa bağlı ölçümü ile malzemenin kusur bilgisi elde edilir. 12000
Kriyojenik Fourier dönüşümlü kızılötesi spektrometreThermo Scientific Nicolet iS50, geniş bir spektral aralığa (4000 cm⁻¹ ila 400 cm⁻¹) ve yüksek spektral çözünürlüğe sahip gelişmiş bir FTIR spektrometresidir. Geçirgenlik, yansıma ve zayıflatılmış toplam yansıma (ATR) modları ve Kryostat yardımı ile malzeme soğutularak düşük yoğunluktaki yapısal kontaminasyonlar tespit edilir.12000
Derin seviye geçiş spektroskopisi (DLTS)Derin seviye geçici spektroskopi (DLTS) sistemi, yarı iletkenlerdeki elektriksel olarak aktif kusurları (yük taşıyıcı tuzakları olarak bilinir) incelemek için deneysel bir araçtır. DLTS deneyi sırasında malzeme 10K gibi düşük sıcaklıklara indiğinde elektronların yaşam süresinin artmasına bağlı olarak yapıdaki temel kusurların ortaya çıkmasını sağlar. 21000
Kriyojenik I-V ölçümü ile aktivasyon enerjisi hesaplamaKryostat yardımı ile malzemeler soğutularak Akım-Gerilim grafikleri ve aktivasyon enerjileri hesaplanmaktadır.9000
Karanlık I-V ölçüm düzenegiEl yapımı karanlık I-V sistemi ile, karanlıktaki bir silikon güneş pilinin diyot karakteristiğini göremizi ve analiz etmemizi sağlar ve kayıp mekanizması hakkında bilgi verir.1200
Elektron Paramanyetik Rezonans (EPR/ESR)Malzeme içindeki elektronların paramanyetik davranışlarını ve spin özelliklerini inceleyerek malzemenin kusurları hakkında bilgi edinmemizi sağlar.9000 / Room Temp. 60000 / Low Temp.
Nükleer Manyetik Rezonans SpektroskopisiMalzemenin çekirdek manyetik etkileşimlerini inceleyerek; moleküllerin yapısını, dinamiklerini ve çevresel etkileşimlerini atomik seviyede detaylandırır ve kimyasal analizler yapmamıza olanak sağlar.9000
Uçuş Zamanı – İkincil İyon Kütle Spektroskopisi (ToF-SIMS)Uçuş zamanına bağlı malzemeden koparılan ikincil iyonları analiz ederek herhangi bir malzemenin içeriğini milyarda bir hassasiyete kadar derinliğe bağlı analiz edebilir. Çözünürlük konusunda dünyadaki en hassas sistemlerden biri sayılır. 9000 / saat intensity için adet
Grazing Incidence Xray Diffraction (GIXRD)Yalayıcı açıyla gelen x-ışını yardımıyla çok ince tabakalardan veya malzemenin en üst yüzeyinden kristalografik bilgiye bağlı yapı incelemesi yapılır.3000

İNDİRİM KOŞULLARI VE ORANLARI

Eğer bir servis talebi kurum, kuruluş, üniversite veya firma/şirket adına gönderiliyorsa, aşağıdaki indirim oranları uygulanır:

  • Orta Doğu Teknik Üniversitesi (ODTÜ): %50
  • 6550 No.lu Kanun Kapsamında Desteklenen Araştırma Altyapıları: %30
  • ODTÜ Teknokent Firmaları: %30
  • Vakıf Üniversiteleri: %20
  • Kamu Kurum ve Kuruluşları: %30
  • 4961 ve 5746 No.lu Kanun Kapsamındaki Firmalar/Şirketler: %20
  • Kamu, Üniversite ve Özel Sektör İşbirlikleri: %20 (Eğer talep bir üniversite adına gönderiliyorsa)

* FİYATLARIMIZA KDV DAHİL DEĞİLDİR.

* ODTÜ-GÜNAM’ın güneş enerjisi araştırma ve geliştirme alanındaki stratejik hedefleri ile uyumlu hizmet taleplerinde kamu kurum ve kuruluşları, yüksek öğretim kurumları ve KOBİ niteliğindeki işletmelere %50’ye kadar indirim uygulanabilecektir.